严格的质检&质保工具 Artec Studio 19提供质量检测、偏差分析、高级数据捕获和处理算法的软件解决方案。 测量与分析 距离与偏差 导出 处理数据快速,效果出色 Artec Studio配备超快速的算法,能够将捕获的数据快速转为精细网格,为建模奠定坚实基础。 手动处理数据 全权掌控,并将3D扫描数据或摄影测量数据转换为网格。利用智能基底移除、自动对齐、超快配准功能加速每个步骤。 或选择自动模式处理数据 Artec Studio的自动模式能够自动对齐数据、删除多余数据、创建网格,让您即刻开启编辑之旅。 多台扫描仪组合使用,扫描范围更广 使用两台及以上Artec 3D扫描仪协同作业,并在Artec Studio中整合数据,以深入分析并检验不同尺寸的物体及其细节。 对齐&测量,达毫米级精度 Artec Studio中的网格和CAD对齐 导入STEP、IGES或X_T格式的CAD文件,实现快速对齐,并比较扫描网格与CAD模型,优化工作流程。 对齐数据,确保精确检验 借助关键几何特征,对齐扫描与对应的CAD模型,以获取准确可靠的检验结果。 测量方法 灵活运用距离映射、点对点测距或图元形状测距等方法,计算网格与成对的CAD模型间的距离,确保精准的垂直或水平对齐。 质量检验 Artec Studio工具齐全,能够进行快速且精确的测量,轻松实现网格到CAD的转换,以及网格间的偏差分析。 识别并检验偏差 距离映射与缺陷检测 对您创建的任何3D模型进行快速表面距离图比较和精确测量,并通过标签轻松标识最小与最大偏差。 优化部件厚度 借助厚度映射功能,确保狭小几何结构免于破损风险,并精准定位厚度变化区域,剖析其成因。 标记点厚度补偿 对标记点进行厚度校正,最大化3D计量工具(如Artec计量套件)所测数据的精确度。 容差检查模式 针对需符合特定行业容差标准的部件,启用容差检查模式可重新渲染3D模型,并高亮显示超差区域。 导出数据,进行高级处理 将数据以OBJ、STL、STEP和PTEX等格式导出至各类主流3D建模软件。 在Control X中对齐 将数据导至Control X,借助自适应配对或归位对齐功能,对齐网格与参考几何。归位对齐过程中,需要反复对齐点,直至偏差完全消除。 与ZEISS INSPECT无缝集成 首先用Artec 3d扫描仪进行扫描,扫描数据经Artec Studio处理后,可导至ZEISS INSPECT Optical 3D,完成工业级分析。 免费试用Artec Studio 19 Artec Studio 19功能齐全,您有机会免费体验这款业内领先3D数据捕获平台的新功能。